成果報告書詳細
管理番号20110000001231
タイトル平成22年度成果報告書 戦略的国際標準化推進事業 標準化研究開発 急峻繰返しインパルスの部分放電計測に関する標準化
公開日2011/7/28
報告書年度2010 - 2010
委託先名独立行政法人国立高等専門学校機構奈良工業高等専門学校
プロジェクト番号P04002
部署名技術開発推進部
和文要約繰返しインパルス電圧におけるモータコイルの部分放電(PD)の測定方法に関して、奈良高専は外部協力者(九州工業大学、愛媛大学、兵庫県立大学、豊橋技術科学大学)とともに共同実験(RRT)を実施した。平成20-21年に実施した1次RRT結果をまとめ22年10月に開催された米国電気学会の国際会議(IEEE CEIDP)に論文を発表した。
NEDO事業の第2次共同実験(RRT)として新たに「2次RRT標準化会議」を立上げ、外部協力者と討議して実験項目を定め共同で実験を進めた。主な検討項目とその実験結果をまとめると
1.放電消滅電圧RPDEVとRPDIVとの比較:異なる測定系において、厳密にはRPDEV<RPDIVが確認された。しかしその差異は小さく、閾値が大きな場合はほぼRPDEV=RPDIVであった。
2.センサノイズと検出しきい値のRPDIV/RPDEVへの影響:部分放電検出センサの感度に依存し、感度が低い場合はRPDEV=RPDIVであった。IEC61934Ed2.0の感度チェックの妥当性が再確認された。
3.誘導性試料におけるインパルス振動のRPDIV/RPDEVへの影響:単極性インパルスを印加しても減衰振動波形となるため、電圧をV0-p値で評価するとRPDIVの値は低下した。しかし実際の振動波形を測定してVp-p(ピークtoピーク)値で評価するとRPDIVは増加した。即ちモータコイルのような誘導性試料における部分放電測定においては、IEC61934でも述べているように、実際の電圧波形を計測することが非常に重要であることが再認識された。
国際標準化活動としてはこれまでIEC61934の第2版原案を審議し、平成22年5月には委員会原案(CD)を発行し、さらに11月投票付きTS案(DTS)が発行された。DTSの回覧が予想外に早期化したため、今回の2次RRTの技術成果は当該規格の第3版改訂時に反映すべく整備することとした。CD発行からDTS発行までの間、9月のTC112WG3ベルリン会議・10月のTC112シアトル会議および頻繁な電子メール交換によって原案の審議を進めた。IEC61934Ed.2.0原案の付録Cには1次RRTの代表的結果が紹介され、当該分野の日本研究者のイニシアチブを示した。これらの活動は対応する国内標準会議であるTC112国内委員会に毎回報告した。
英文要約Nara National College of Technology (NNCT) has performed the second Round Robin Test (RRT) on measurements of partial discharges (PD) under repetitive impulse condition in collaboration with Kyushu Institute of Technology, Ehime University, University of Hyogo and Toyohashi University of Technology. In October 2010, the summary of the first RRT of repetitive PD inception voltage (RPDIV) was presented at IEEE Conference of Electrical Insulation and Dielectrics Phenomena. As the second RRT activity under NEDO Grant, the Second RRT Meeting was started with the above-mentioned universities. The 2nd RRT has three technical targets: the comparison between the repetitive PD extinction voltage (RPDEV) and RPDIV, the effect of threshold values of sensors on RPDIV and the effect of damped oscillation of applied impulse due to the introduction of inductance. It was confirmed with plural experimental results that RPDEV is, strictly speaking, lower than RPDIV, while RPDEV=RPDIV was also observed in the case of relatively large threshold values of PD sensors. Damped oscillation of applied impulse leads to the decrease of RPDIV values in V0-p, while it increases in Vp-p of the oscillating voltage waveform. This suggests the importance of voltage waveform observation during PD measurement as mentioned in IEC61934Ed2.0. 
Since the DTS of IEC61934Ed.2.0 was circulated in November, earlier as expected, the result of the second RRT will be reflected on the revision for IEC61934Ed.3.0. As IEC standardization activity, the Committee Draft (CD) was circulated in May, 2010 and Draft of Technical Specification (DTS) in November, 2010. The voting result was positive at present. Intensive revision activities were was taken place in Berlin meeting in September, Seattle TC112 meeting in October and frequent email-exchange among IEC/TC112/ WG3 Project Team One members. The result of the first RRT was presented in Annex C of the draft of IEC61934Ed.2.0, which suggests the initiative of Japanese researchers in this field. The every activity has been reported to National Committee of IEC/TC112 in Japan.
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