成果報告書詳細
管理番号20120000001098
タイトル平成23年度成果報告書 平成21年度第1回採択産業技術研究助成事業 09A17019a 短尺カーボンナノチューブの創製とCNTトランジスタへの展開 平成23年度中間
公開日2013/11/23
報告書年度2011 - 2011
委託先名独立行政法人産業技術総合研究所斎藤毅
プロジェクト番号P00041
部署名技術開発推進部
和文要約CNTネットワークをチャネルとする塗布型CNTトランジスタのさらなる高性能化を実現するため、CNTネットワークのAFM画像の二値化後に得られるオブジェクト領域の射影(底)面積とその円周長に着目して、部分的な自己組織性を有するモルフォロジーを統計的・定量的に分析する新規手法の開発を行った。射影(底)面積とその円周長を保存してオブジェクト領域を幾何学変換することによって、CNTネットワークの総延長や導電パスとして機能している主要ネットワークの割合、導電パス中のボトルネックとなっているデッドエリア、局所配向の平均的ピッチやネットワークを構成している単層CNTの密度などを定量的に評価できることを明らかにした。また、これらの分析結果から、CNTネットワーク成膜技術に関してトランジスタの性能をさらに向上させるための指針を得た。
英文要約For helping the improvement of device performances of printed SWCNT transistors, we have developed a novel method for the statistical and quantitative analysis of morphologies of SWCNT networks with partially self-assembling property. It has been clarified that the geometric transformation of the objects in the binary image, which was processed from the AFM image of SWCNT network conserving their projecting areas and circumferential lengths, provides the quantitative characterization of various useful parameters such as the total length of SWCNTs, the length of conducting pathway and its percentage, dead-areas that should become a bottle-neck of conducting pathway, the statistic pitch of local alignment, and the density of SWCNTs in the SWCNT network. Based on the result of this novel AFM image analysis, the guideline for the improvement of device performances of printed CNT transistors in the film formation process CNT network morphology has been proposed.
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