成果報告書詳細
管理番号100013642
タイトル平成17年度-平成19年度成果報告書 平成17年度第2回採択産業技術研究助成事業 05A21502d 先端電子機器に含まれる有害化学物質の溶出試験法開発と国際標準化 平成19年度最終
公開日2009/4/24
報告書年度2005 - 2007
委託先名独立行政法人産業技術総合研究所山下信義
プロジェクト番号P00041
部署名研究開発推進部
和文要約PFOS/PFOA他、フッ素系樹脂や半導体・液晶製造工程において使用される難分解性人口フッ素化合物の電子機器製品分析と溶出試験法の検証実験を行った。また従来法と比べて数千倍倍高感度な総有機フッ素分析装置を開発し、一般市販化も行った。本装置により理論上3.3ngのPFOSを検出可能、EU-PFOS指令(2006/122/EC)にも対応できるスクリーニング法を確立した。標準化活動としてISO国際標準法(TC147/SC2/WG56「PFOS/PFOAの水質分析法」)を確立し、製品分析の基礎技術としての国際規格確立に成功した。
英文要約We developed new method for testing prefluorinated chemicals including PFOS and PFOA in personal computer and validated. New method of trace analysis of fluorine in industrial products were also developed and applied in real sample. The first ISO method for PFOS/PFOA was successfully established.
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